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HAST试验箱，全称为高加速应力测试（Highly Accelerated Stress Test）试验箱，是一种模拟极端环境条件的高加速寿命测试机,又称高加速寿命测试机，HAST高加速老化试验箱、HAST老化试验箱、高压蒸煮试验箱、非饱和高压蒸煮试验箱等。它主要用于评估电子组件和产品的可靠性和耐久性，特别是在高温、高湿、高压的恶劣环境下。
HAST试验箱的关键应用
HAST试验箱通过模拟高温、高湿、高压环境，可以快速加速测试样品的老化过程，帮助制造商发现并解决潜在的产品设计问题，如材料老化、腐蚀、绝缘电阻下降等。这有助于提高产品的可靠性和耐久性，从而确保长期的稳定运行。
主要特点和组成
- 高温高压腔室：用于模拟极端温度和压力条件。
- 湿度控制系统：精确控制测试环境的湿度。
- 数据记录系统：实时记录测试过程中的数据变化。
绝缘电阻劣化(离子迁移）测试体统
与离子迁移测试系统配套使用的HAST试验箱，可以进一步评估绝缘电阻劣化问题。通过偏压测试、漏电流测试、击穿电压测试等，可以评估器件在极端环境下的性能和寿命。
环境模拟与电性能测试
HAST试验箱不仅限于环境模拟试验，还可以进行如caf测试、emc测试等电性能测试，确保产品在各种条件下的稳定性和安全性。
HAST试验箱是电子产品制造商进行高加速应力测试和老化测试的重要工具。它通过模拟严酷的环境条件，帮助制造商识别并解决产品设计的潜在问题，从而提高产品的可靠性和耐久性。通过配套离子迁移测试系统，HAST试验箱还能评估绝缘电阻劣化，确保电子器件在各种条件下的稳定运行。
部分试验条件
| 试验条件 | 试验时间(小时) | 备注 |
| 85℃,85% | 24,48,96,192,408,500,1000 | 推荐半导体、PCB和光伏产品采用 此标准 |
| 110℃,85% | 24,48,96,192,408,500,1000 | 推荐半导体塑封芯片采用此标准 |
| 120℃,85% | 24,48,96,192,408,500,1000 | 推荐半导体塑封芯片采用此标准 |
| 130℃,85% | 24,48,96,192,408,500,1000 | 推荐半导体塑封芯片采用此标准 |
在线客服客服一HAST试验箱，全称为高加速应力测试（Highly Accelerated Stress Test）试验箱，是一种模拟极端环境条件的高加速寿命测试机,又称高加速寿命测试机，HAST高加速老化试验箱、HAST老化试验箱、高压蒸煮试验箱、非饱和高压蒸煮试验箱等。它主要用于评估电子组件和产品的可靠性和耐久性，特别是在高温、高湿、高压的恶劣环境下。
HAST试验箱的关键应用
HAST试验箱通过模拟高温、高湿、高压环境，可以快速加速测试样品的老化过程，帮助制造商发现并解决潜在的产品设计问题，如材料老化、腐蚀、绝缘电阻下降等。这有助于提高产品的可靠性和耐久性，从而确保长期的稳定运行。
主要特点和组成
- 高温高压腔室：用于模拟极端温度和压力条件。
- 湿度控制系统：精确控制测试环境的湿度。
- 数据记录系统：实时记录测试过程中的数据变化。
绝缘电阻劣化(离子迁移）测试体统
与离子迁移测试系统配套使用的HAST试验箱，可以进一步评估绝缘电阻劣化问题。通过偏压测试、漏电流测试、击穿电压测试等，可以评估器件在极端环境下的性能和寿命。
环境模拟与电性能测试
HAST试验箱不仅限于环境模拟试验，还可以进行如caf测试、emc测试等电性能测试，确保产品在各种条件下的稳定性和安全性。
HAST试验箱是电子产品制造商进行高加速应力测试和老化测试的重要工具。它通过模拟严酷的环境条件，帮助制造商识别并解决产品设计的潜在问题，从而提高产品的可靠性和耐久性。通过配套离子迁移测试系统，HAST试验箱还能评估绝缘电阻劣化，确保电子器件在各种条件下的稳定运行。
部分试验条件
| 试验条件 | 试验时间(小时) | 备注 |
| 85℃,85% | 24,48,96,192,408,500,1000 | 推荐半导体、PCB和光伏产品采用 此标准 |
| 110℃,85% | 24,48,96,192,408,500,1000 | 推荐半导体塑封芯片采用此标准 |
| 120℃,85% | 24,48,96,192,408,500,1000 | 推荐半导体塑封芯片采用此标准 |
| 130℃,85% | 24,48,96,192,408,500,1000 | 推荐半导体塑封芯片采用此标准 |
