冷热冲击试验箱（Cold and Hot Impact Test Chamber）又称高低温冲击试验箱、温度冲击试验箱、温冲箱等，是用于产品温度冲击试验的设备，可以测试产品在不同温度环境下的适应性的试验设备。它能够模拟产品在使用过程中可能遇到的温度急剧变化情况，以评估产品在温度冲击下的性能和可靠性。【温度急剧变化特指温度变化率大于10℃/Min】

冷热冲击试验箱通常由加热器、冷却器、控制系统和测试腔等组成。组成部分：

加热器：用于将测试腔内的温度升高到预设的值。

冷却器：用于将测试腔内的温度降低到预设的值。

控制系统：用于控制试验箱的温度和时间，以确保试验条件的准确性和可重复性。

测试腔：用于放置待测试的产品，它通常由不锈钢或类似材料制成，以提供良好的耐腐蚀性和耐用性。

功能： 冷热冲击试验箱的主要功能是测试产品在不同温度环境下的适应性和可靠性。它能够在短时间内模拟产品在使用过程中可能遇到的温度剧烈变化，从而评估产品在温度冲击下的性能和可靠性。

主要应用于，电子行业例如半导体器件、电子元器件、手机、电脑等；汽车行业例如发动机零件、刹车系统、底盘等；航空航天行业例如飞机零部件、航天器组件等电力行业例如变压器、发电机等电力设备；化工行业例如塑料、橡胶、涂料等产品及材料在温度冲击下的性能和可靠性。

冷热冲击试验箱按照冷却方法分为：空气冷热冲击试验箱、液态冷热冲击试验箱；

空气冷热冲击试验箱按照箱体设计分为:两箱式冷热冲试验箱、三项式冷热冲击试验箱。市面上常见的冷热冲击试验箱一般就是气体冷热冲击；

液态冷热冲击试验箱相比空气冷热冲击试验箱，测试的温度范围更广、温度变化率更高。但是价格也更高，一般PCB行业,半导体,元器件行业中部分企业才会使用。

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冷热冲击试验是一种重要的环境适应性试验，以下是一些常见参考的标准条款：

GB/T2423.1-2008《电工电子产品基本环境试验第1部分：低温试验方法》：该标准规定了电工电子产品的基本环境试验，包括低温试验的方法和要求。

GB/T2423.2-2008《电工电子产品基本环境试验第2部分：高温试验方法》：该标准规定了电工电子产品的基本环境试验，包括高温试验的方法和要求。

GB/T2423.17-2008《电工电子产品基本环境试验第17部分：温度冲击试验方法》：该标准规定了电工电子产品的温度冲击试验方法和要求。

GB/T10592.1-2008《试验设备气候环境试验第1部分：通用要求》：该标准规定了气候环境试验设备的基本要求和试验方法。

IEC68-2-14：这是国际电工委员会（IEC）制定的关于试验设备气候环境试验的标准，其中包括了冷热冲击试验的相关要求和执行方法。

GB/T2424.1-2009《电工电子产品气候环境试验第1部分：通用规范》：该标准规定了电工电子产品气候环境试验的通用规范，包括冷热冲击试验。

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